No.

主要規(guī)格

規(guī)格描述

1

X射線激發(fā)系統(tǒng)

垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)

      75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選

X射線管功率可編程控制

裝備有安全防射線光閘

2

濾光片程控交換系統(tǒng)

根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選

位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口

3

準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)

最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制

多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4

測量斑點(diǎn)尺寸

在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)

在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)

5

X射線探測系統(tǒng)

封氣正比計(jì)數(shù)器

裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

6

樣品室

CMI900

CMI950

－樣品室結(jié)構(gòu)

開槽式樣品室

開閉式樣品室

－最大樣品臺尺寸

610mmx 610mm

300mmx 300mm

－XY軸程控移動范圍

標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm

任選：50.8mmx 152.4mm

      50.4mm x 177.8mm

      101.6 x 177.8mm

      177.8 x 177.8mm

      610mm x 610mm

300mmx 300mm

－Z軸程控移動高度

43.18mm

XYZ程控時，152.4mm

XY軸手動時，269.2mm

－XYZ三軸控制方式

多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統(tǒng)

高分辨、彩色、實(shí)時CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。

激光輔助光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

7

計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置

IBM計(jì)算機(jī)：2.8G奔騰IV處理器，256M內(nèi)存，1.44M軟驅(qū)，40G硬盤，CD-ROM，鼠標(biāo)，鍵盤，15寸液晶，56K調(diào)制解調(diào)器?；萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C(jī)。

8

分析應(yīng)用軟件

操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺

中文分析軟件包：SmartLink FP軟件包

－測厚范圍

可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。請告訴牛津儀器您的具體應(yīng)用，我們將列表可測定的厚度范圍

－基本分析功能

無標(biāo)樣檢量線測厚，可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動進(jìn)行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

可檢測元素范圍：Ti²² – U⁹²

可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

組成分析時，可同時測定15種元素

多達(dá)4個樣品的光譜同時顯示和比較

元素光譜定性分析

－調(diào)整和校正功能

系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結(jié)果的影響，自動消除系統(tǒng)漂移

譜峰計(jì)數(shù)時，峰漂移自動校正功能

譜峰死時間自動校正功能

譜峰脈沖堆積自動剔除功能

標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測樣品間，密度校正功能

譜峰重疊剝離和峰形擬合計(jì)算

－測量自動化功能

(要求XY程控機(jī)構(gòu))

鼠標(biāo)激活測量模式：“Point and Shoot”

多點(diǎn)自動測量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式

測量位置預(yù)覽功能

激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能

(要求XY程控機(jī)構(gòu))

設(shè)定測量點(diǎn)

One or Two Datumn (reference) Points on each file

測量位置預(yù)覽(圖表顯示)

－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖

數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表

直方圖

數(shù)據(jù)庫存儲功能

－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能

Z軸保護(hù)傳感器

樣品室門開閉傳感器

操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師

－任選軟件

統(tǒng)計(jì)報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書

液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

材料鑒別和分類檢測

材料和合金元素分析

貴金屬檢測，如Au karat評價